光集積デバイスに必要なスピーディかつ高確度の測定を実現

5Gサービスが始まり、超大容量・超高速通信時代へと突入した。その高速通信を支えるため、光送受信機の分野では集積化が進んでいる。その中でも次世代技術として注目を集めているのがシリコンフォトニクスである。

光集積デバイスの製造工程では、より高確度な検査が求められ、従来の光測定器では不十分と言わざるを得ない。この課題を解決するため、電気・電子計測機器のリーディングカンパニーであるキーサイトは「IL/PDL測定ソリューション」および「N777xC波長可変レーザー光源」を開発・リリースした。

今回リリースされたN777xCは、「波長改変レーザーとして最高性能を持つ」とキーサイトの山口修司氏は話す。その言葉通り、絶対波長確度は±1.5pmと高性能だ。また、連続掃引時の波長再現性は±0.3pm、掃引速度は最高200nm/秒と、連続して高速に波長を切り替えることもできる。そのほかにも100dB以上のダイナミックレンジ、10kHz以下の超狭線幅を実現するなど、比類なき性能を有している。

無料会員登録

無料会員登録をすると、本サイトのすべての記事を閲覧いただけます。
また、最新記事やイベント・セミナーの情報など、ビジネスに役立つ情報を掲載したメールマガジンをお届けいたします。