SPECIAL TOPIC光集積デバイスに必要なスピーディかつ高確度の測定を実現

測定／テスト

2020.07.22

ページタイトルとURLがコピーされました

1Tbpsの超高速伝送を可能にする次世代光ネットワークの確立に向け、光部品の研究開発が進められている。その基盤技術として今後、需要の拡大が見込まれている光集積デバイスに最適な光測定ソリューションが登場した。キーサイト・テクノロジー（以下キーサイト）が提供するN777xC波長可変レーザー光源およびIL/PDL測定ソリューションだ。

5Gサービスが始まり、超大容量・超高速通信時代へと突入した。その高速通信を支えるため、光送受信機の分野では集積化が進んでいる。その中でも次世代技術として注目を集めているのがシリコンフォトニクスである。

光集積デバイスの製造工程では、より高確度な検査が求められ、従来の光測定器では不十分と言わざるを得ない。この課題を解決するため、電気・電子計測機器のリーディングカンパニーであるキーサイトは「IL/PDL測定ソリューション」および「N777xC波長可変レーザー光源」を開発・リリースした。

今回リリースされたN777xCは、「波長改変レーザーとして最高性能を持つ」とキーサイトの山口修司氏は話す。その言葉通り、絶対波長確度は±1.5pmと高性能だ。また、連続掃引時の波長再現性は±0.3pm、掃引速度は最高200nm/秒と、連続して高速に波長を切り替えることもできる。そのほかにも100dB以上のダイナミックレンジ、10kHz以下の超狭線幅を実現するなど、比類なき性能を有している。

次のページ　高確度測定の時間が半減！　2つの特徴で課題を解決

続きのページは、会員の方のみ閲覧していただけます。

無料会員登録ログインする